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日本日置HIOKI 日置 IM3536 LCR测试仪
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日本日置HIOKI 日置 IM3536 LCR测试仪

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公司介绍
DC,4Hz~8MHz测量频率
● 测量频率DC,4Hz~8MHz● 测量时间:最快1ms● 基本精度:±0.05% rdg● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量● 可内部发生DC偏压测量● 从研发到生产线活跃在各种领域中
主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。
测量模式LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)测量参数
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε测量量程100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)显示范围Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)测量频率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)测量信号电平[V模式, CV模式]的[通常模式]4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)[CC模式]的[通常模式]4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)1.00... [详细介绍]
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